伴隨著光通信技術(shù)的快速發(fā)展，硅光芯片、光器件、光模塊及中短距離光通信網(wǎng)絡(luò)（如機(jī)載、車載光網(wǎng)絡(luò)）的精確故障定位與診斷，已成為研發(fā)人員工作中的瓶頸。上述場(chǎng)景對(duì)測(cè)試設(shè)備分辨率、靈敏度要求較高。為解決該難題，“思儀科技”推出了基于OFDR（光頻域反射技術(shù)）的微米級(jí)光纖鏈路測(cè)試方案。

圖 1  微米級(jí)光纖鏈路測(cè)試方案

本方案攻克了偏振衰落效應(yīng)抑制技術(shù)、掃頻非線性補(bǔ)償技術(shù)、事件分析技術(shù)等難題，能夠以20微米空間分辨率探測(cè)鏈路內(nèi)部構(gòu)成，單次掃描即可獲取損耗曲線，最短測(cè)量時(shí)間僅需5秒。本方案可快速精確的提供各器件插回?fù)p、位置等關(guān)鍵信息，真正做到芯片級(jí)“可視化”。

a 全局視圖

b 標(biāo)記處局部放大

圖 2  可調(diào)光衰減器模塊測(cè)試效果

a 全局視圖（紅色：非導(dǎo)通狀態(tài)，藍(lán)色：導(dǎo)通狀態(tài)，下同）

b 標(biāo)記處局部放大

圖 3  光開(kāi)關(guān)模塊測(cè)試效果

圖2、圖3為本方案實(shí)際測(cè)試效果圖。憑借著微米級(jí)分辨率與高靈敏度的優(yōu)勢(shì)，圖中測(cè)試曲線清晰反映了可調(diào)光衰減器模塊、光開(kāi)關(guān)模塊內(nèi)部密集的事件點(diǎn)（熔接點(diǎn)、耦合器、特殊結(jié)構(gòu)等）。結(jié)合事件分析技術(shù)，微米級(jí)光纖鏈路測(cè)試方案能夠?qū)κ录c(diǎn)進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)，輔助用戶精確定位故障位置，并獲取關(guān)注區(qū)域插回?fù)p。對(duì)待測(cè)鏈路多次測(cè)量，長(zhǎng)度測(cè)試重復(fù)性小于100微米。

思儀科技開(kāi)發(fā)的微米級(jí)光纖鏈路測(cè)試方案可廣泛應(yīng)用于各類光通信器件的研發(fā)、生產(chǎn)領(lǐng)域，大幅提高用戶測(cè)試效率，降低測(cè)試成本。同時(shí)本方案擴(kuò)展性強(qiáng)，可根據(jù)用戶實(shí)際需求添加功能模塊、定制系統(tǒng)軟件。思儀科技持續(xù)關(guān)注光電測(cè)試需求，致力于為用戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)，期待與您的合作。